Foto: Fenster des Freihofs Sulz

IEA-ISGAN Annex 5 (SIRFN): Design and Evaluation of SunSpec-Compliant Smart Grid Controller with an Automated Hardware-in-the-Loop Testbed (2017)

Im Rahmen von IEA-ISGAN-SIRFN wurde ein Hardware-In-The-Loop Prüfverfahren für die automatisierte Validierung der Interoperabilität von Smart Grid Wechselrichtern entwickelt und auf Basis der AIT Smart Grid Converter Plattform getestet.

Herausgeber: IEA-ISGAN, SIRFN
Englisch, 6 Seiten

Inhaltsbeschreibung

Im Rahmen der Zusammenarbeit im Smart Grid International Research Facility Network (SIRFN) erarbeiteten die SANDIA National Laboratories, USA gemeinsam mit dem AIT Austrian Institute of Technology, Österreich, ein innovatives Prüfverfahren für die Smart Grids Funktionalität auf Basis von Controller Hardware In The Loop Technologie. Das neue Verfahren (Smart Inverter CHIL Si-CHIL) ermöglicht die vollständig automatisierte Prüfung von Umrichtern, deren Kommunikationsschnittstellen und netzstützende Funktionen.

In dem Paper präsentieren die Autoren das Testverfahren auf Basis des von AIT entwickelten AIT Smart Grid Converters. Verschiedene Funktionen, wie Blindleistungsbereitstellung, Spannungsregelung und Frequenzregelung wurden automatisiert geprüft.

Mit Hilfe des neuen Verfahrens können netzstützende Funktionen von Smart Grid Wechselrichtern wesentlich umfassender und effizienter als bisher im Labor geprüft werden. Komplexe Fragen der Interoperabilität können damit zuverlässig beantwortet werden. Für die Netzintegration von dezentralen Anlagen bedeutet dies einen entscheidenden Schritt, auf dessen Basis zukünftig der zuverlässige und sichere Betrieb gestaltet werden kann.

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